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inTEST,热流仪,光模块,高低温冲击测试光模块是一种比较灵敏的光学器件, 温度过高或者过低都会影响光模块的功能, 工作温度过高, 会引起发射光功率过大、接收信号错误、丢包等问题, 甚至直接烧坏光模块, 温度过低则会导致光纤模块的性能
2022-06-14
来源: 伯东贸易(深圳)有限公司
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伯东 ,inTEST, 高低温冲击测试机, ATS-545上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用 功能测试, 是测试芯片的参数、指针、功能, 用人话说就是看你十月怀胎生下来的宝贝是骡子是马拉出来遛遛
2022-06-15
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系统制造商需要相应的测试系统, 以确保射频芯片性能和合规性. 近日, 国内某射频功率放大器制造企业通过上海伯东推荐, 购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 给射频芯片提供 -80 至 +225 °C 快速精准
2022-06-14
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满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本!在车规级芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机有着不同于
2022-06-14
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inTEST,热流仪某国内 LED 液晶显示屏制造商采用伯东 inTEST 高低温测试机 ATS 545 T 对 LED 液晶显示屏进行一系列的温度环境进行高低温测试, 主要测试项目包含冷热循环 Thermal cycle 与冷热冲击
2022-06-14
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下承受冲击载荷,因此,脆性转变温度的高低是金属材料的质量指标之一。 低温冲击试验是将试样置于某种冷却剂中,冷却至规定温度后在进行试验,以测定其低温冲击吸收功。 超低温冲击试验箱属于高低温冲击试验箱被冠名的叫法,因为此设备的低温冲击温度
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inTEST,热流仪某功率器件制造商为了保证其功率器件能够在不同的温度环境下能正常运行, 采用伯东inTEST 高低温测试机 ATS-545-M 对功率器件进行测试. inTEST ATS-545-M 高低温测试机技术参数:型号
2022-06-14
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模式为因老化和不同的温度膨胀系数导致的材料裂化或密封失效。本试验将导致机械缺陷(裂缝),不要求带电工作。2.4 试验方法及参数2.4.1 冷热冲击试验(气体): 有两种实现方式,一种为手动转换,将产品在高温箱和低温箱之间进行转换
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:温度冲击试验箱规格与技术参数: 型号(cm)HT/CJX-50(A/B/C)HT/CJX-80(A/B/C)HT/CJX-108(A/B/C)HT/CJX-150(A/B/C)HT/CJX-250(A/B/C)工作室尺寸36×35×4050
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inTEST 高低温测试机 ATS-710-M 对PCB板 ( 印刷电路板)进行温度环境测试. 伯东美国 inTEST 高低温测试机 ATS-710-M技术参数:型号: ATS-710-M温度范围°C: -75至+225 (50Hz), -80至
2022-06-14
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